当主流的半导体材料-矽(Si)无法满足高速传输、大电压的需求时,
找出最佳的宽能隙材料替代刻不容缓,但该如何量测能隙?选出宽能隙材料后,晶体堆叠的瑕疵又该如何观察呢?
在现代人极度倚靠行动或穿戴装置的生活中,隐于其中的半导体材料无所不在。各种大电源及高速传输的供应需求,诸如太阳能、风电、电动交通工具,或家用、物联网、资料中心等,在原本主流的半导体材料-矽(Si)无法胜任此一变化下,新世代的材料因应而生。但这些新材料又是如何挑选的呢?本期宜特小学堂将从能隙的量测和磊晶品质等面向来探讨,新世代的新材料如何挑选?
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